传统AOI（自动光学检测设备）使用过程中的痛点

我们可以从以下几个层面来深入剖析AOI自动光学检测的痛点：

一、 技术层面的痛点

1.  误报与漏报的平衡难题
     痛点：这是AOI*经典、*核心的痛点。误报/误判（False Call）指将OK判为NG，漏报（Escape）指将OK判为NG。
     影响：
     高误报率：导致大量人工从新复判，浪费人力物力资金、降低整体生产效率，甚至可能因反复搬运造成产品物理损伤。
     高漏报率：导致有NG产品的产品流入下道工序或直接出货，造成客户投诉、批量退货，带来巨大的质量风险和成本损失。
     根源：元件多样性、焊锡形态千变万化、PCB板颜色和反光、元器件位置微小偏移等，都使得“**”的检测算法极难实现。

2.  编程与调试复杂耗时
     痛点：为新机种创建检测程序（编程）和优化参数（调试）非常依赖工程师的经验，而且耗时较长。
     影响：在小批量、多品种的柔性制造趋势下，换线时间长成为产能瓶颈。导致整线产能不平衡，一个不成熟的程序会直接导致上述的误报/漏报问题。
     根源：需要针对每个元件的类型、尺寸、焊盘设计，手动设置检测窗口、灰度阈值、容差范围等数十甚至上百个参数。

3.  对复杂元件和新型工艺的检测能力不足
     痛点：对于屏蔽罩（元件下方被遮挡）、BGA/CSP（焊点不可见）、异形元件、高密度组装板等，2D AOI的检测能力有限。
     影响：这些关键且昂贵的元件一旦出问题，往往是致命缺陷，但AOI却难以有效检出。
     解决方案与衍生痛点：虽然3D AOI和AXI（自动X射线检测）可以部分解决，但又带来了设备成本高昂、编程更复杂、检测速度慢等新痛   点。

4.  数据与价值挖掘不足
     痛点：传统的AOI只是一个“判官”，生产了大量的检测数据，但这些数据往往停留在本机，没有与MES（制造执行系统）、SPC（统计过   程控制）等系统打通。
    影响：无法实现真正的实时质量监控、趋势预警和根源分析。管理者不知道是锡膏印刷问题、贴片问题还是回流焊问题导致了当前的缺陷。
    根源：系统集成度低，缺乏有效的数据分析工具和平台。

 二、 成本与运营层面的痛点

1.  高昂的初始投资与维护成本
     痛点：一台高性能的AOI设备价格昂贵，尤其是3D和在线式机型。同时，定期的校准、保养和备件更换也是一笔不小的持续支出。

2.  对操作员和工程师的技能要求高
     痛点：不仅需要操作员能熟练复判，更需要有经验的工程师进行程序优化和故障排查。
     影响：人才难求，培养周期长，人力成本高。工程师的水平直接决定了AOI系统效能的上限。

3.  检测速度与生产节拍的匹配问题
     痛点：在高速度的SMT产线上，AOI有可能成为瓶颈。提高检测精度往往需要更复杂的算法和更多的计算时间，可能会降低检测速度。
     影响：为了保产能，有时不得不牺牲一部分检测精度，从而增加了质量风险。


国产AOI品牌：微著，镭晨，斯泰克，识渊，JUTZE，德律，劲拓，明锐等品牌。